Тестер интегральных схем IC________________BTE-392

Tester układów scalonych IC

Wielofunkcyjny tester układów scalonych IC wyposażony jest w wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD, podstawkę zaciskową ZIF-24, oraz klawiaturę sterującą. Zasilany jest przy pomocy dwóch baterii AA 1,5V. Tester jest całkowicie przenośny i umożliwia testowanie/sprawdzanie/wykrywanie/: cyfrowych układów logicznych z serii TTL/CMOS, układów interfejsowych, wzmacniaczy operacyjnych, tranzystorów bipolarnych pnp npn, tranzystorów unipolarnych N- MOS P -MOS, diod Zenera do 50V, transoptorów (optoizolatorów). Sprawdzanie poprawności działania układów scalonych sprowadza się do automatycznego wykrycia typu układu, tranzystorów do wykrycia układu wyprowadzeń, diod Zenera na zbadaniu spadku napięcia.

Wielofunkcyjny tester układów scalonych jest profesjonalnym instrumentem przeznaczonym dla inżynierów, personelu serwisowego, elektroników. Różne tryby testowania - można wybrać : tryb 5V lub 3,3V, tryb AUTO, 74HC, 74LS, CD4000, HEF400, 4500, wzmacniacze operacyjne, układy interfejsowe, transoptory, diody zenera, tranzystory.

Dane techniczne:

• tester układów scalonych IC
• wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD
• klawiatura sterująca
• podstawka zatrzaskowa ZIF-24 pin
• zasilanie: 2x bateria AA 1,5V (brak w zestawie)
• funkcja automatycznego wykrywania włożonego układu scalonego
• testowanie diod Zenera do 50V

Zestaw zawiera:

ㅤ➤ 1 x tester układów scalonych IC

Serdecznie zapraszamy na naszą prezentację produktu w formie video: https://www.youtube.com/watch?v=P0fvyL3XAuI